一种平面叶片面积无损测量系统及其方法

专利权的终止

摘要

本发明涉及平面面积测量技术领域，特别是一种使用单幅图像，进行平面叶片面积无损测量的系统及其方法。系统包括：图像采集单元，图像校正单元，叶片图像分割单元，叶片面积计算单元。方法包括：通过图像采集单元得到附着在标定板上的平面叶片图像；图像校正单元根据图像和标定板上的同名点，计算出图像上的像素和实际物体的射影对应关系，并且对图像进行正射校正；叶片图像分割单元将叶片的图像从背景中分离出来；叶片面积计算单元根据射影对应关系，计算出正射校正后的叶片图像的面积。

基本信息

专利标题：

一种平面叶片面积无损测量系统及其方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1952599A

申请号：

CN200510086647.1

公开（公告）日：

2007-04-25

申请日：

2005-10-20

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

滕军胡包钢

申请人：

中国科学院自动化研究所

申请人地址：

100080北京市海淀区中关村东路95号

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

段成云

优先权：

CN200510086647.1

主分类号：

G01B21/28

IPC分类号：

G01B21/28 G01B11/28