测量导热片随温度变化其结构变化状况的装置及方法

专利权的终止

摘要

本发明涉及一种测量导热片随温度变化其结构变化状况的装置，其包括一基底，一加热装置，一散热装置，一监控系统，及一原子力显微镜；该监控系统具有一温度检测部及一温度控制部，该温度检测部与基底相连，用于检测基底的温度，该温度控制部分别与加热装置及散热装置相连，用于实现对加热装置及散热装置的控制。本发明还提供一种测量导热片随温度变化其结构变化状况的方法。

基本信息

专利标题：

测量导热片随温度变化其结构变化状况的装置及方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1959392A

申请号：

CN200510101026.6

公开（公告）日：

2007-05-09

申请日：

2005-11-04

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

张俊毅萧博元董才士

申请人：

鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

申请人地址：

518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200510101026.6

主分类号：

G01N25/16

IPC分类号：

G01N25/16 G01B21/32