多能量断层造影的方法和系统

发明专利申请公布后的驳回

摘要

多能量断层造影的方法和系统简而言之，根据一个实施例，本发明提供一种多能量断层造影成像系统(10)。该系统包括被配置成在有限的角度范围内相对成像体积从多个位置发射X射线(24)的X射线源(14)。成像系统(10)还包括具有探测器元件阵列的数字探测器(18)，用于响应于所发射的X射线(24)产生图像。该成像系统还包括从数字探测器(18)采集多幅图像的探测器采集电路(34)。成像系统(10)还包括被配置成根据能量特征分解多幅图像和重建多幅图像以产生三维多能量断层造影图像的处理电路(36)。

基本信息

专利标题：

多能量断层造影的方法和系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1768707A

申请号：

CN200510107000.2

公开（公告）日：

2006-05-10

申请日：

2005-09-30

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

J·W·埃伯哈德J·P·考夫霍尔德B·E·H·克劳斯K·N·雅布里G·B·阿维纳什J·M·萨波尔

申请人：

通用电气公司

申请人地址：

美国纽约州

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

张雪梅

优先权：

CN200510107000.2

主分类号：

A61B6/03

IPC分类号：

A61B6/03 A61B6/00 G01N23/04 G01T1/29