探测器和带有这种探测器的计算机层析X射线摄影仪
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明公开了一种探测器和计算机层析X射线摄影仪，其中，探测器包括一个第一探测区(1)用于检测第一投射方向的投射射线和此外还包括至少一个第二和一个第三探测区(2、3)用于检测第二和第三投射方向的投射射线。当所述探测器(8)相应地运作时，可选择以高的时间分辨率、高体积覆盖率或选择能够覆盖大的垂直于计算机层析X射线摄影仪系统轴线(Z)的检查区横截面地灵活地扫描检查区。
基本信息
专利标题 ：
探测器和带有这种探测器的计算机层析X射线摄影仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1763512A
申请号 ：
CN200510108709.4
公开（公告）日 ：
2006-04-26
申请日 ：
2005-09-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
安德烈·哈通雷纳·劳帕克詹斯－彼得·沙纳格尔埃伯哈德·坦韦格斯
申请人 ：
西门子公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
侯宇
优先权 ：
CN200510108709.4
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N23/06 A61B6/03 G01T1/29
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2008-07-02 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-04-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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