利用反射式达曼光栅的超短脉冲测量装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种利用反射式达曼光栅的超短激光脉冲测量装置，包括分束延时器、会聚镜、非线性晶体、光阑和光谱仪，其特征在于所述的分束延时器是由三快1×2反射式达曼光栅和两块挡光板立体配置而构成的反射式达曼光栅分束延时器，所述的会聚镜是一反射式会聚镜。本发明是一种全反射式超短激光脉冲测量装置，解决了超短激光脉冲测量过程由于光束透过介质而产生的超短脉冲展宽的问题，具有结构简化、调节方便和仪器成本低的特点。
基本信息
专利标题 ：
利用反射式达曼光栅的超短脉冲测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1776383A
申请号 ：
CN200510110632.4
公开（公告）日 ：
2006-05-24
申请日 ：
2005-11-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
周常河戴恩文
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
201800上海市800－211邮政信箱
代理机构 ：
上海新天专利代理有限公司
代理人 ：
张泽纯
优先权 ：
CN200510110632.4
主分类号 ：
G01J11/00
IPC分类号 ：
G01J11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2009-11-18 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-07-19 ：
实质审查的生效
2006-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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