本发明一种硬盘综合测试系统，可一次对大量硬盘进行综合测试，包括一测试主机及若干待测硬盘。所述硬盘综合测试系统还包括连接测试主机的集线组及若干连接于集线组的控制电路板。每一控制电路板可同时与若干硬盘建立测试通讯。每一控制电路板包括一硬盘测试适配电路、一连接测试主机的微处理单元及一与微处理单元总线连接的硬盘供电电路与状态显示电路。所述硬盘供电电路在微处理单元的控制下为被测硬盘提供工作电压。测试信令从主机经由集线组扩展为若干分路信号，信号从控制电路板的测试适配电路分别传送到指定硬盘进行测试。