实现圆形光环强度均匀化的方法及光纤扰模器
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本发明公开了一种实现差分吸收光谱仪中圆形光环强度均匀化的方法及光纤扰模器，对差分吸收光谱仪的望远镜与光谱仪之间的光纤中的一段通过具有凹凸面的工件进行挤压，使得光纤中的高阶模进行混合，输出强度分布均匀的光斑进入单色仪中。光纤扰模器，是将一段光纤夹于一对表面凹凸不平且相互吻合的夹板之间。根据光纤扰模效应，在光纤扰模器中，光纤中的高阶模进行混合，输出强度分布均匀的光斑。应用于差分吸收光谱仪，可以消除圆形光环对测量精度的影响，实现了降低系统剩余噪声，增加了探测精度，提高了探测下限。
基本信息
专利标题 ：
实现圆形光环强度均匀化的方法及光纤扰模器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1862248A
申请号 ：
CN200510123189.4
公开（公告）日 ：
2006-11-15
申请日 ：
2005-12-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
谢品华司福祺刘建国刘文清李昂方武秦敏窦科李玉金
申请人 ：
中国科学院安徽光学精密机械研究所
申请人地址 ：
230031安徽省合肥市1125信箱
代理机构 ：
合肥华信专利商标事务所
代理人 ：
余成俊
优先权 ：
CN200510123189.4
主分类号 ：
G01N21/31
IPC分类号 ：
G01N21/31 G01J3/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术
法律状态
2010-02-17 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-10-08 ：
授权
2007-01-10 ：
实质审查的生效
2006-11-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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