剪切场下的结合激光光散射和显微镜的原位观测系统
专利权的终止
摘要

本发明涉及剪切场下的结合激光光散射和显微镜的原位观测系统,该系统也可用于剪切场下的液晶、乳浊液等体系的研究。该系统包括激光光散射和显微镜系统,两套系统共用在一平台上的一带加热器的样品池,精确可控的剪切场施加装置和全反射镀膜镜。本发明可对被精确恒温的实验样品(聚合物熔体或溶液、聚合物共混物合金等)精确施加固定或可变速率的剪切场。使用稳定输出的激光作为光散射光源,通过透镜组和CCD面阵检测器得到倒易空间的反映形态和结构的散射图案,同时在同样实验条件下切换到显微镜光路,获得实空间的形态和结构,可将获取的显微镜图样经过FFT转变后与相对应的散射图案对比来验证剪切场下产生的具体形态和结构。

基本信息
专利标题 :
剪切场下的结合激光光散射和显微镜的原位观测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1967254A
申请号 :
CN200510123609.9
公开(公告)日 :
2007-05-23
申请日 :
2005-11-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
韩志超姚咏华
申请人 :
中国科学院化学研究所
申请人地址 :
100080北京市海淀区中关村北一街2号
代理机构 :
上海智信专利代理有限公司
代理人 :
李柏
优先权 :
CN200510123609.9
主分类号 :
G01N35/00
IPC分类号 :
G01N35/00  G01N21/00  G01N3/24  G01N21/51  G01N21/64  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N35/00
不限于用G01N1/00至G01N33/00中任何单独一组提供的方法或材料所进行的自动分析;及材料的传送
法律状态
2014-12-31 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101594122321
IPC(主分类) : G01N 35/00
专利号 : ZL2005101236099
申请日 : 20051118
授权公告日 : 20101229
终止日期 : 20131118
2010-12-29 :
授权
2007-07-18 :
实质审查的生效
2007-05-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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