改进的ESD结构
专利权的终止
摘要

一种IGFET,它通过从开口和位错的相邻的边缘处转换(displacing)源极和漏极区的侧边,把在器件区边缘处的位错影响减至最小。这使源极和漏极杂质的横向扩散和进入位错区的金属硅化物的形成减至最小。从开口和位错区的邻近边缘的源极和漏极区侧边的间隙是通过提供从氧化层延伸至衬底区的邻近区中附加的横向对置的第二栅极区,或氧化阻挡层,和在其间延伸的第一栅极区产生的。第一栅极区和两个第二栅极区,或阻挡层,都被用于源极和漏极区的自对准加工中。第一栅极区限定沟道的长度,而两个对置的第二栅极区,即阻挡层,限定沟道区的宽度。把第二栅极部件,或阻挡层,充分地延伸至衬底区中,以使沟道宽度与在氧化物中开口的相邻的边缘隔开。

基本信息
专利标题 :
改进的ESD结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1783490A
申请号 :
CN200510125002.4
公开(公告)日 :
2006-06-07
申请日 :
2005-11-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
S·J·高尔M·D·切奇J·E·威森
申请人 :
英特赛尔美国股份有限公司
申请人地址 :
美国加利福尼亚州
代理机构 :
上海专利商标事务所有限公司
代理人 :
李玲
优先权 :
CN200510125002.4
主分类号 :
H01L27/02
IPC分类号 :
H01L27/02  H01L29/78  H01L21/82  H01L21/336  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27/00
由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27/02
包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
法律状态
2014-12-31 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101593358298
IPC(主分类) : H01L 27/02
专利号 : ZL2005101250024
申请日 : 20051108
授权公告日 : 20110216
终止日期 : 20131108
2011-02-16 :
授权
2007-12-05 :
实质审查的生效
2006-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1783490B.PDF
PDF下载
2、
CN1783490A.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332