光记录介质及其测试方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明涉及一种光记录介质及其测试方法，可以防止在高温下长时间保存时的再现信号的恶化，并在高温保存的前后可以进行稳定的记录再现之外，能够实现记录的高速化和提高记录密度，光记录介质在60℃～90℃的保存温度t下高温保存至少50－(4/3)(t－60)小时后被记录在记录层上的高温保存后的记录标记的再现信号输出，为具有与高温保存后的记录标记相同的位长、且在高温保存前被记录在记录层上的高温保存前的记录标记的再现信号输出的0.9倍或0.9倍以上。
基本信息
专利标题 ：
光记录介质及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1808595A
申请号 ：
CN200510127192.3
公开（公告）日 ：
2006-07-26
申请日 ：
2005-11-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
新开浩吉成次郎三浦荣明
申请人 ：
TDK股份有限公司
申请人地址 ：
日本东京都
代理机构 ：
隆天国际知识产权代理有限公司
代理人 ：
高龙鑫
优先权 ：
CN200510127192.3
主分类号 ：
G11B7/24
IPC分类号 ：
G11B7/24 G11B7/26 G11B7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11B
基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储
G11B7/00
用光学方法，例如，用光辐射的热射束记录用低功率光束重现的；为此所用的记录载体
G11B7/24
按形状、结构或物理特性或所选用的材料区分的记录载体
法律状态
2010-03-24 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2007-12-12 ：
实质审查的生效
2006-07-26 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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