一种由周期性任意波形激发测量荧光寿命的方法及装置
专利权的终止
摘要
一种由周期性任意波形激发测量荧光寿命的方法,为了克服现有测量方法测量荧光寿命的困难,以测量发射波形相对于激发波形的相位延迟计算得到荧光寿命的相移法为基础,采用具有一定调制度和频率可调谐的激发光源激励荧光样品。由计算机分别对激发波形和发射波形进行傅利叶级数展开,只需提取基频分量间的相位延迟,就可以根据相位延迟和荧光寿命的关系计算得到准确荧光寿命值,从而避开了激发波形中含有的高次谐波对实验结果的影响,提高了测量荧光寿命的准确度。解决了目前相移法必须依靠高简谐度激发波形等问题。提供一种由周期性任意波形激发光源就可以测量荧光寿命的方法,提高准确度外还降低了对激发光源驱动电路的要求。
基本信息
专利标题 :
一种由周期性任意波形激发测量荧光寿命的方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1987429A
申请号 :
CN200510131854.4
公开(公告)日 :
2007-06-27
申请日 :
2005-12-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
冯颖黄世华梁春军
申请人 :
北京交通大学
申请人地址 :
100044北京市西直门外上园村3号
代理机构 :
北京市商泰律师事务所
代理人 :
毛燕生
优先权 :
CN200510131854.4
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2013-02-13 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101395517849
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2005101318544
申请日 : 20051220
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20111220
号牌文件序号 : 101395517849
IPC(主分类) : G01N 21/64
专利号 : ZL2005101318544
申请日 : 20051220
授权公告日 : 20090708
终止日期 : 20111220
2009-07-08 :
授权
2007-08-22 :
实质审查的生效
2007-06-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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