用容性测量检测不可访问的插针上的短路的方法和装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明是一种使用容性耦合技术诊断集成电路器件的不可访问节点或非接触节点上的短路缺陷的方法和装置。根据本发明，交流(AC)信号发生器被连接，以向被测IC器件的可访问节点施加交流(AC)信号。优选地，被测IC器件的所有余下可访问节点接地。容性传感探测器的传感器板以信号耦合方式放置在集成电路器件上的感兴趣的不可访问节点的附近。如果在感兴趣的不可访问节点上存在信号，则其容性耦合到探测器的传感器板。测量设备通过容性传感探测器获得代表容性耦合到传感器板的电流量的测量值。基于测量值和/或从测量值导出的参数，可以推断被激励可访问节点和不可访问节点之间可能的短路缺陷的存在。
基本信息
专利标题 ：
用容性测量检测不可访问的插针上的短路的方法和装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1851488A
申请号 ：
CN200510135060.5
公开（公告）日 ：
2006-10-25
申请日 ：
2005-12-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
埃迪·威廉姆森
申请人 ：
安捷伦科技有限公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
王怡
优先权 ：
CN200510135060.5
主分类号 ：
G01R31/02
IPC分类号 ：
G01R31/02 G01R31/00 G01R31/28
法律状态
2010-11-24 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101043681344
IPC(主分类) : G01R 31/02
专利申请号 : 2005101350605
公开日 : 20061025
号牌文件序号 : 101043681344
IPC(主分类) : G01R 31/02
专利申请号 : 2005101350605
公开日 : 20061025
2008-06-11 ：
实质审查的生效
2006-10-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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