使用滤波器乘积的线性校正器的校准系统和方法
专利权的终止
摘要
公开了一种用于使用滤波器乘积的和来校准线性校正器的校准系统，以及一种校准该线性校正器的方法。该校准系统包括用于将测试信号引入例如ADC的信号处理系统的第一和第二信号发生器。提供采集存储器和处理器用于采集和分析该信号处理系统的输出，并且然后编程该滤波器系数到该线性校正器中。该校准方法分析从该信号处理系统采集的互调和谐波分量，然后为该滤波器寻找幅度和相位响应。然后使用该幅度和相位响应来确定一组滤波系数。
基本信息
专利标题 ：
使用滤波器乘积的线性校正器的校准系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1790916A
申请号 ：
CN200510137332.5
公开（公告）日 ：
2006-06-21
申请日 ：
2005-11-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
K·R·斯拉文
申请人 ：
特克特朗尼克公司
申请人地址 ：
美国俄勒冈州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
刘杰
优先权 ：
CN200510137332.5
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10 H03M1/12
法律状态
2020-10-27 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : H03M 1/10
申请日 : 20051104
授权公告日 : 20120502
终止日期 : 20191104
申请日 : 20051104
授权公告日 : 20120502
终止日期 : 20191104
2012-05-02 ：
授权
2007-12-19 ：
实质审查的生效
2006-06-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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