测试模拟器、测试模拟程序以及记录媒体

授权

摘要

本发明提供一种测试模拟器，其用来模拟半导体装置的测试，此测试模拟器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体装置的既存的测试图样；装置输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体装置中时预先保持着应由半导体装置所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体装置中的新的测试图样；测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体装置对新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部分。

基本信息

专利标题：

测试模拟器、测试模拟程序以及记录媒体

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101027566A

申请号：

CN200580032272.9

公开（公告）日：

2007-08-29

申请日：

2005-09-21

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

多田秀树堀光男片冈孝浩

申请人：

爱德万测试株式会社

申请人地址：

日本东京

代理机构：

北京中原华和知识产权代理有限责任公司

代理人：

寿宁

优先权：

CN200580032272.9

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28