用于测距及检测非理想线性调频脉冲曲线的电光方法
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摘要
本发明涉及用于测距及检测非理想线性调频脉冲曲线的电光方法。在该电光测距方法中，将调频光辐射发射到至少一个待测目标上。一旦接收到由该目标散射回的辐射，就通过具有参数cj的相位函数Φ(t)来对辐射的线性调频脉冲进行建模，由此使得可以描述所述线性调频脉冲与线性曲线的偏差。用于描述的参数至少部分地通过测量来确定，或者在数字信号处理中同时估计出。
基本信息
专利标题 ：
用于测距及检测非理想线性调频脉冲曲线的电光方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101036068A
申请号 ：
CN200580034408.X
公开（公告）日 ：
2007-09-12
申请日 ：
2005-09-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
贝亚特·埃比舍尔马塞尔·罗纳
申请人 ：
莱卡地球系统公开股份有限公司
申请人地址 ：
瑞士海尔博瑞格
代理机构 ：
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 ：
李辉
优先权 ：
CN200580034408.X
主分类号 ：
G01S17/32
IPC分类号 ：
G01S17/32 G01S7/491 G01S7/497 G01S7/40
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/32
应用了连续的未调制波，调幅、调频或调相波的发射
法律状态
2010-05-05 ：
授权
2007-11-07 ：
实质审查的生效
2007-09-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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