用于校准电磁测量装置的方法和设备

发明专利申请公布后的驳回

摘要

公开了用于测量与基底(210)关联的电磁辐射响应特性并校准电磁测量装置(100)的方法和设备。方法和设备产生电磁波，波穿过第一偏振滤光器，再从基底反射并穿过相对于第一偏振滤光器成交叉偏振排列的第二偏振滤光器，然后产生的波的一部分被方法和设备捕获。另外，设备捕获穿过衰减滤光器并从一个或多个校准基准反射过来的电磁波。数字数据从捕获到的电磁波确定。数字数据用来重新校准设备。

基本信息

专利标题：

用于校准电磁测量装置的方法和设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101076719A

申请号：

CN200580034998.6

公开（公告）日：

2007-11-21

申请日：

2005-10-12

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

约翰·P.·索特利乔格·H.·贾拉米洛帕特丽夏·A.·拉·弗勒尔

申请人：

宝洁公司;创新测量解决公司

申请人地址：

美国俄亥俄

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

王萍

优先权：

CN200580034998.6

主分类号：

G01N21/27

IPC分类号：

G01N21/27