使用标准可重新配置逻辑器件对IC或电模块的低成本测试
发明专利申请公布后的驳回
摘要
描述了使用可重新配置逻辑器件对集成电路或电模块的低成本测试。在一个实施例中，本发明包括：配置可重新配置逻辑器件以符合被测器件的输入标准、施加测试信号到被测器件、检测被测器件的输出结果、以及分析所检测的输出结果。
基本信息
专利标题 ：
使用标准可重新配置逻辑器件对IC或电模块的低成本测试
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101416067A
申请号 ：
CN200580035345.X
公开（公告）日 ：
2009-04-22
申请日 ：
2005-10-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
S·斯特尔吉斯B·因曼R·哈什
申请人 ：
英特尔公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
曾祥夌
优先权 ：
CN200580035345.X
主分类号 ：
G01R31/3183
IPC分类号 ：
G01R31/3183
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/3183
••••测试输入量的产生，例如测量矢量、图形或顺序
法律状态
2014-10-29 ：
发明专利申请公布后的驳回
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101706581009
IPC(主分类) : G01R 31/3183
专利申请号 : 200580035345X
申请公布日 : 20090422
号牌文件序号 : 101706581009
IPC(主分类) : G01R 31/3183
专利申请号 : 200580035345X
申请公布日 : 20090422
2009-06-17 ：
实质审查的生效
2009-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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