分光光度计

授权

摘要

分光光度计(2)包括辐射源(6)，优选地为光学辐射源，该源被放置以向样品容器(4)内的样品发射多个波长下的辐射，还包括用于探测和样品相互作用后的辐射的探测装置8。该样品容器(4)适用于对于发射的辐射给出多个穿过样品的不同波程长度。可操作性地连接运算单元(10；10b)，以接收来自探测装置(8)的取决于强度的输出，以及适用于存储所探测到的多个不同波程长度中两个或更多个波程长度下发射的辐射的强度值，该强度值和波长挂钩，以及适用于计算取决于两个波程长度中每一个波程长度下挂钩的强度值的比率的值，借此可以获取所存放的样品内感兴趣物质存在的指示。

基本信息

专利标题：

分光光度计

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101069085A

申请号：

CN200580041483.9

公开（公告）日：

2007-11-07

申请日：

2005-12-01

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

H·V·朱尔

申请人：

福斯分析公司

申请人地址：

丹麦希勒勒

代理机构：

北京北翔知识产权代理有限公司

代理人：

杨勇

优先权：

CN200580041483.9

主分类号：

G01N21/03

IPC分类号：

G01N21/03 G01N21/31