中继连接构件、检查装置以及中继连接构件的制造方法
专利权的终止
摘要

本发明的目的在于实现可应对检查对象的端子狭小化,同时可充分确保与检查对象的电连接以及内部的电连接的检查装置。该检查装置具有:探针(3);保持探针(3)的探针保持具(4);通过探针(3)对检查对象(1)输出检查信号的检查电路(5);以及对探针(3)与检查电路(5)进行电连接的中继连接构件(6)。中继连接构件(6)具有:第一连接构件(8),其具备第一配线构造(11、12),该第一配线构造与探针(3)电连接,相邻的第一配线构造彼此形成于不同的层上;以及第二连接构件(9),其具有第二配线构造(16),该第二配线构造与检查电路(5)所具备的配线构造(7)电连接且形成于同一层上。中继连接构件(6)由于具备适于与探针(3)连接的第一连接构件(8);以及适于与检查电路(5)连接的第二连接构件(9),而可以实现对两者的良好的电导通。

基本信息
专利标题 :
中继连接构件、检查装置以及中继连接构件的制造方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101073014A
申请号 :
CN200580042311.3
公开(公告)日 :
2007-11-14
申请日 :
2005-12-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
外间裕康风间俊男
申请人 :
日本发条株式会社
申请人地址 :
日本国神奈川县
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
李贵亮
优先权 :
CN200580042311.3
主分类号 :
G01R1/06
IPC分类号 :
G01R1/06  G01R31/28  H01R11/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
法律状态
2020-11-17 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01R 1/06
申请日 : 20051208
授权公告日 : 20100526
终止日期 : 20191208
2010-05-26 :
授权
2008-01-09 :
实质审查的生效
2007-11-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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