一中央测试设施将测试数据无线地发送至本地测试设施，本地测试设施使用测试数据测试电子器件。本地测试设施将电子器件所产生的响应数据无线地发回给中央测试设施，中央测试设施分析响应数据以确定哪些电子器件通过了测试。中央测试设施可将测试结果提供给其它实体，诸如设计电子器件的设计设施或制造电子器件的制造设施。中央测试设施可接受来自数个本地测试设施中任意一个的测试资源的请求，安排与每个测试请求对应的测试时间，并且在排定的测试时间将测试数据无线地发送至相应的本地测试设施。