用于电气接触改进的真空环设计
专利权的终止
摘要
本发明采用凹部(72)，表面轮廓，触点尖部改进(52)，和/或确保测试板(5)的底表面(50)和电气触点的顶表面(52)之间压紧的其他方法来增强电气触点的顶表面(52)的清洁，从而改进DUT测量的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
用于电气接触改进的真空环设计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101084443A
申请号 ：
CN200580043700.8
公开（公告）日 ：
2007-12-05
申请日 ：
2005-11-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
D·J·加西亚J·L·菲什金京英
申请人 ：
电子科学工业公司
申请人地址 ：
美国俄勒冈州
代理机构 ：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
赵蓉民
优先权 ：
CN200580043700.8
主分类号 ：
G01R31/01
IPC分类号 ：
G01R31/01 B07C5/344
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
G01R31/01
对相似的物品依次进行测试，例如在成批生产中的“过端—不过端”测试；当物体通过测试台时对物体进行测试
法律状态
2016-12-28 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101693758582
IPC(主分类) : G01R 31/01
专利号 : ZL2005800437008
申请日 : 20051103
授权公告日 : 20110831
终止日期 : 20151103
号牌文件序号 : 101693758582
IPC(主分类) : G01R 31/01
专利号 : ZL2005800437008
申请日 : 20051103
授权公告日 : 20110831
终止日期 : 20151103
2011-08-31 ：
授权
2008-01-23 ：
实质审查的生效
2007-12-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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