用于确定超热电子的局部发射率分布的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
本发明涉及一种用于通过0阶贝塞尔函数Jo利用层析成象反演来确定超热电子的局部发射率分布的过程，该超热电子来自位于环形管中的电离气环，该0阶贝塞尔函数Jo利用通过当前的实时硬X射线诊断法得到的线积分测量值。
基本信息
专利标题 ：
用于确定超热电子的局部发射率分布的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101088309A
申请号 ：
CN200580044397.3
公开（公告）日 ：
2007-12-12
申请日 ：
2005-12-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
迪迪埃·马宗奥利韦罗·巴拉纳伊夫·佩松
申请人 ：
法国原子能委员会
申请人地址 ：
法国巴黎
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
余刚
优先权 ：
CN200580044397.3
主分类号 ：
H05H1/00
IPC分类号 ：
H05H1/00 H05H1/12
法律状态
2010-08-18 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101004078994
IPC(主分类) : H05H 1/00
专利申请号 : 2005800443973
公开日 : 20071212
号牌文件序号 : 101004078994
IPC(主分类) : H05H 1/00
专利申请号 : 2005800443973
公开日 : 20071212
2008-02-06 ：
实质审查的生效
2007-12-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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