光纤母材的纤芯部非圆率测量方法
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摘要
本发明公开一种光纤母材(1)的纤芯部非圆率测量方法，其包括：从垂直于纤芯部中心轴的方向，一边向浸泡在匹配油(3)中的光纤母材(1)照射光线，一边使光纤母材(1)向平行于中心轴的方向移动，对光线中透过纤芯部的透过光线的宽度变化连同光纤母材(1)的移动量的关系进行记录，获得光纤母材(1)有关长度方向的纤芯部的相对外径值分布的相对外径值分布测量步骤；每当绕着中心轴，使光纤母材(1)旋转至规定的旋转角度时，执行相对外径值分布测量步骤，并记录多个相应于旋转角度的相对外径值分布的相对外径值分布积累步骤；根据在相对外径值分布积累步骤中积累的多个相对外径值分布，计算出多个对于光纤母材(1)长度方向的纤芯部的多个非圆率的非圆率计算步骤。
基本信息
专利标题 ：
光纤母材的纤芯部非圆率测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101120231A
申请号 ：
CN200580048284.0
公开（公告）日 ：
2008-02-06
申请日 ：
2005-12-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
飞坂优二乙坂哲也小山田浩
申请人 ：
信越化学工业株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
北京中原华和知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
寿宁
优先权 ：
CN200580048284.0
主分类号 ：
G01B11/08
IPC分类号 ：
G01B11/08 G01B11/24 G01M11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/08
用于计量直径
法律状态
2010-09-29 ：
授权
2008-04-02 ：
实质审查的生效
2008-02-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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