透镜测量仪
授权
摘要
一种用于测量待测量透镜的光学特性的透镜测量仪，包括测量光学系统，其包括将测量光束投射至透镜的光源，以及接收已经通过透镜的测量光束的光接收传感器；运算部，其基于光接收传感器的光接收结果获得透镜的预定测量区域的光学特性分布；近视部判定装置，其基于测量区域中的光学特性分布判定透镜的近视部是否存在于该测量区域；以及检测装置，其基于光接收传感器的光接收结果检测测量区域中除透镜的光学区域之外的非光学区域的存在；当近视部判定装置没有判定测量区域中存在近视部并且检测装置检测出测量区域中存在非光学区域时，运算部基于测量区域中光学区域的光学特性分布获得透镜的附加度数。
基本信息
专利标题 ：
透镜测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101297186A
申请号 ：
CN200580051913.5
公开（公告）日 ：
2008-10-29
申请日 ：
2005-11-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梶野正
申请人 ：
株式会社尼德克
申请人地址 ：
日本国爱知县
代理机构 ：
上海市华诚律师事务所
代理人 ：
徐申民
优先权 ：
CN200580051913.5
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2010-09-22 ：
授权
2008-12-24 ：
实质审查的生效
2008-10-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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