一种提高半导体发光二极管光提取效率的表面钝化方法
专利权的终止
摘要

本发明涉及半导体发光二极管表面钝化方法,适于多种波长的LED。现用在LED上的钝化层是SiO2和SiNx,不能很好改善LED光特性。本发明步骤:已经制备好N电极(5)和P电极(2)的LED样品放入到PECVD设备的腔室;N2预热:使用流量为400~1000sccm的N2预热5~20分钟;等离子体处理:等离子体的射频功率为10~30W,N2为400~1000sccm,启辉5至15分钟;在LED的出光面制备SiOxNy增透膜:通入硅烷,氮气,一氧化二氮的混合气或者硅烷,氨气,一氧化二氮混合气,使用高、低频源交替的方法用PECVD生长钝化层的光学厚度为LED发射波长四分之一的奇数倍,折射率为P型半导体3折射率的开方;光刻腐蚀去掉出光面电极上的SiOxNy。本发明的钝化膜黏附性好、致密度高、均匀性好,能极大提高LED的光提取效率。

基本信息
专利标题 :
一种提高半导体发光二极管光提取效率的表面钝化方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1822403A
申请号 :
CN200610001061.5
公开(公告)日 :
2006-08-23
申请日 :
2006-01-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
沈光地达小丽郭霞高国
申请人 :
北京工业大学
申请人地址 :
100022北京市朝阳区平乐园100号
代理机构 :
北京思海天达知识产权代理有限公司
代理人 :
张慧
优先权 :
CN200610001061.5
主分类号 :
H01L33/00
IPC分类号 :
H01L33/00  
法律状态
2017-03-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101706169093
IPC(主分类) : H01L 33/00
专利号 : ZL2006100010615
申请日 : 20060118
授权公告日 : 20080116
终止日期 : 20160118
2010-02-10 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
变更事项 : 专利权人
变更前 : 北京太时芯光科技有限公司
变更后 : 北京太时芯光科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市北京经济技术开发区科创二街4号2幢1-4层南部 邮编 : 100176
变更后 : 北京市北京经济开发区地泽北街1号 邮编 : 100176
2008-12-03 :
专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 北京工业大学
变更后权利人 : 北京太时芯光科技有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市朝阳区平乐园100号 邮编 : 100022
登记生效日 : 20081024
变更后 : 北京市北京经济技术开发区科创二街4号2幢1-4层南部 邮编 : 100176
2008-01-16 :
授权
2006-10-18 :
实质审查的生效
2006-08-23 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332