测量打印在介质上的图像的光密度的方法和设备
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要
一种用于在图像形成设备中测量打印在介质上的图像的光密度的方法和设备。该方法包括下述步骤：从存储器读取参考信息；通过将光施加于打印有目标图像的介质来测量从该介质反射的光的量；和使用所述参考信息和测量出的从所述介质反射的光的量来计算所述目标图像的光密度。因此，可在不需要另外的光密度测量装置的情况下准确地测量打印在介质上的图像的光密度，并容易地减小图像形成设备之间的打印质量的差别或变化。
基本信息
专利标题 ：
测量打印在介质上的图像的光密度的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1825097A
申请号 ：
CN200610001150.X
公开（公告）日 ：
2006-08-30
申请日 ：
2006-01-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
金亨一姜京杓
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人 ：
韩明星
优先权 ：
CN200610001150.X
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84 G01N21/17 G06K9/20 B41J2/36 G06F19/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2009-07-15 ：
发明专利申请公布后的视为撤回
2006-10-25 ：
实质审查的生效
2006-08-30 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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