反复试验多比特纠错
专利权的终止
摘要
本发明的实施方案是一种使用反复试验技术执行纠错的技术。检验子生成器提供根据至少一个纠错参数的选择进行修改的数据字的数据检验子的生成。数据字与在一个单元上执行的至少一个事务相关联。控制器控制迭代数据检验子的生成。
基本信息
专利标题 ：
反复试验多比特纠错
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1811720A
申请号 ：
CN200610002302.8
公开（公告）日 ：
2006-08-02
申请日 ：
2006-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
亨克·尼夫斯艾伦·鲍姆
申请人 ：
英特尔公司
申请人地址 ：
美国加利福尼亚州
代理机构 ：
北京英特普罗知识产权代理有限公司
代理人 ：
齐永红
优先权 ：
CN200610002302.8
主分类号 ：
G06F11/00
IPC分类号 ：
G06F11/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
法律状态
2017-03-15 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101707560678
IPC(主分类) : G06F 11/00
专利号 : ZL2006100023028
申请日 : 20060126
授权公告日 : 20080820
终止日期 : 20160126
号牌文件序号 : 101707560678
IPC(主分类) : G06F 11/00
专利号 : ZL2006100023028
申请日 : 20060126
授权公告日 : 20080820
终止日期 : 20160126
2008-08-20 ：
授权
2006-09-27 ：
实质审查的生效
2006-08-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN100412805C.PDF
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2、
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