分光偏振测定法

授权

摘要

本发明涉及一种分光偏振测定法和分光偏振器；温度改变或其他的因素会导致延迟器的延迟发生变化，并且这种变化致使表示光偏振态的参数产生测量误差，本发明是为了有效地减小这种测量误差，同时保持沟槽分光偏振器的多种特性。通过求解方程，由沟槽光谱P(σ)中包含的每个振动分量，得到参考相位函数φ₁(σ)和φ₂(σ)，在测量光谱测定的斯托克斯参数S₀(σ)、S₁(σ)、S₂(σ)和S₃(σ)的同时，校准参考相位函数φ₁(σ)和φ₂(σ)。

基本信息

专利标题：

分光偏振测定法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1811357A

申请号：

CN200610005149.4

公开（公告）日：

2006-08-02

申请日：

2006-01-13

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

冈和彦谷口敦史冈部浩史

申请人：

北海道TLO株式会社;欧姆龙株式会社

申请人地址：

日本札幌市

代理机构：

隆天国际知识产权代理有限公司

代理人：

王玉双

优先权：

CN200610005149.4

主分类号：

G01J3/447

IPC分类号：

G01J3/447

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01J

红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法

G01J3/00

光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色

G01J3/28

光谱测试

G01J3/447

偏振光谱法

法律状态

2010-05-12 ：

授权

2009-07-29 ：

专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

变更后权利人 : 日本北海道札幌市
登记生效日 : 20090626
变更事项 : 申请人
变更前权利人 : 北海道TLO株式会社
变更后权利人 : 国立大学法人北海道大学
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 日本札幌市
变更事项 : 共同申请人
变更前权利人 : 欧姆龙株式会社
变更后权利人 : 欧姆龙株式会社

2006-09-27 ：

实质审查的生效

2006-08-02 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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