多通道荧光测量光学系统及多通道荧光样本分析仪

授权

摘要

提供一种多通道荧光测量光学系统及使用该光学系统的多通道荧光样本分析仪。将光照射在多个样本通道并就年样本发出的荧光的多通道荧光测量光学系统，包括：光源；用于使光源发出的光具有均匀强度分布的积分器；具有其上配置有样本的多个样本通道的样本架，其中利用从积分器发出的光来激励所述样本；以及置于所述积分器和样本架之间用于以预定比例分开入射光的分束器。由于利用光纤束和光电二极管能够检测荧光的光强，故可以大幅度缩减制造成本并微型化光学系统。

基本信息

专利标题：

多通道荧光测量光学系统及多通道荧光样本分析仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1815196A

申请号：

CN200610005877.5

公开（公告）日：

2006-08-09

申请日：

2006-01-19

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

玉景植金洙贤金珍泰吴光昱

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

马高平

优先权：

CN200610005877.5

主分类号：

G01N21/64

IPC分类号：

G01N21/64 G01N21/01