用于避免太阳黑效应的CMOS图像传感器的列模数转换器
授权
摘要
本发明提供了一种用于在CMOS图像传感器(CIS)中避免太阳黑效应的模数(ADC)电路。该ADC电路包括：具有信号电压输入端口和参考电压输入端口的比较器，其在重置采样时段将从多个CIS像素中的一个输出的重置电压与参考电压进行比较，并当所述重置电压低于所述参考电压时输出溢出传感信号；以及将所述比较器的输出转换成数字数据的数字比较器，其中该数字比较器包括第一锁存器，当在重置采样时段的第一部分中比较器输出溢出传感信号时，该第一锁存器存储该溢出信号，并响应于该溢出传感信号，在信号采样时段中输出指示溢出的标志信号。
基本信息
专利标题 ：
用于避免太阳黑效应的CMOS图像传感器的列模数转换器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1812508A
申请号 ：
CN200610006796.7
公开（公告）日 ：
2006-08-02
申请日 ：
2006-01-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
林秀宪
申请人 ：
三星电子株式会社
申请人地址 ：
韩国京畿道
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
邵亚丽
优先权 ：
CN200610006796.7
主分类号 ：
H04N5/335
IPC分类号 ：
H04N5/335
法律状态
2010-03-17 ：
授权
2008-02-13 ：
实质审查的生效
2006-08-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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