可设定值计数器及其测试方法
专利权的终止
摘要
一种可设定值计数器的测试方法，应用于一包含n个具有m位元的次级计数器电路的一可设定值计数器，其中该等次级计数器电路是以串联方式连接，该测试方法包括步骤如下：设定该等次级计数器电路的最低k个位元为不同初始值；进入一测试模式，并输入(2m)个计数时脉以检测该可设定值计数器；设定该等次级计数器电路的m位元；以及进入一计数模式，陆续输入2个计数时脉并逐次检测该可设定值计数器。
基本信息
专利标题 ：
可设定值计数器及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101022275A
申请号 ：
CN200610008803.7
公开（公告）日 ：
2007-08-22
申请日 ：
2006-02-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
许文琪郭淑华伍玉光蔡佳洲杨志伟
申请人 ：
盛群半导体股份有限公司
申请人地址 ：
台湾省新竹科学工业园区研新二路三号
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
任永武
优先权 ：
CN200610008803.7
主分类号 ：
H03K21/40
IPC分类号 ：
H03K21/40
法律状态
2012-04-18 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101225309946
IPC(主分类) : H03K 21/40
专利号 : ZL2006100088037
申请日 : 20060215
授权公告日 : 20090805
终止日期 : 20110215
号牌文件序号 : 101225309946
IPC(主分类) : H03K 21/40
专利号 : ZL2006100088037
申请日 : 20060215
授权公告日 : 20090805
终止日期 : 20110215
2009-08-05 ：
授权
2007-10-17 ：
实质审查的生效
2007-08-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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