600－700nm波段傅立叶变换光致发光谱方法及装置
授权
摘要
本发明公开了一种600－700nm波段傅立叶变换光致发光谱方法及装置。该装置包括具有步进扫描功能的傅立叶变换红外光谱测量系统，作为激发光源的激光器、以及连接傅立叶变换红外光谱仪中探测器与电路控制板的锁相放大器、置于样品与激光器之间光路上的斩波器，从而使连续激发光变为幅度调制激发光，并馈入锁相放大器的输入参考端来控制锁相。该方法使用上述装置进行可见/近红外波段调制光致发光谱测量，包括消除傅立叶变换红外光谱仪内部氦氖激光的干扰；消除傅立叶频率和增强可见/红外波段光致发光微弱信号的探测能力三个功能。经过对发光峰位于600－700nm附近的InGaP/A1GaInP多量子阱材料进行光致发光谱的测试。表明：本发明显著提高探测灵敏度和光谱信噪比，并具有快速、便捷的优点，特别适用于600－700nm波段半导体材料微弱光致发光特性的检测。
基本信息
专利标题 ：
600－700nm波段傅立叶变换光致发光谱方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1804592A
申请号 ：
CN200610023426.4
公开（公告）日 ：
2006-07-19
申请日 ：
2006-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邵军陆卫越方禹吕翔李志锋郭少令褚君浩
申请人 ：
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 ：
200083上海市玉田路500号
代理机构 ：
上海新天专利代理有限公司
代理人 ：
田申荣
优先权 ：
CN200610023426.4
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64 G01N21/27
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2009-03-04 ：
授权
2006-09-13 ：
实质审查的生效
2006-07-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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