岩体结构面试样的代表性评价方法

专利权的终止

摘要

本发明涉及一种岩体结构面试样的代表性评价方法，包含以下顺序步骤：分别在所选取的岩体结构面试样和原位岩体结构面上标定试验方向，使岩体结构面试样和原位岩体结构面的粗糙度系数测量方向保持一致；根据标定方向，对岩体结构面试样进行定向统计测量，求得岩体结构面试样的粗糙度系数特征值JRC₀；在原位岩体结构面上，沿标定方向，按照岩体结构面试样的长度均匀布置不少于30条的测量线段，进行定向统计测量，求得试样尺寸的原位岩体结构面粗糙度系数特征值JRC₀^*；由K＝｜JRC₀－JRC₀^*｜/JRC₀^*评价结构面试样的代表性。K＝0～0.15，结构面试样代表性很好；K＝0.15～0.4，结构面试样代表性较好；K＝0.4～0.7，结构面试样代表性中等；K＝0.7～1，结构面试样代表性较差；K≥1，结构面试样代表性

基本信息

专利标题：

岩体结构面试样的代表性评价方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1815183A

申请号：

CN200610049591.7

公开（公告）日：

2006-08-09

申请日：

2006-02-24

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

杜时贵胡晓飞

申请人：

浙江建设职业技术学院

申请人地址：

311231浙江省杭州市萧山高教园区

代理机构：

杭州天正专利事务所有限公司

代理人：

王兵

优先权：

CN200610049591.7

主分类号：

G01N19/00

IPC分类号：

G01N19/00 G01N3/24 G01B5/28 G06F19/00