光学性能监控器

专利申请权、专利权的转移

摘要

提供一种用于监控WDM光信号的OSNR的光学性能监控器，其中具有多个Vernier输入端口的多路阵列波导光栅(AWG)被设置在光开关和光二极管阵列之间，被耦合至AWG的输出端口。在工作中，光开关依序将输入光信号提供入各个Vernier端口，以及将光二极管检测的信号存储在存储器单元。该装置能够以步进频率监控WDM信号的OSNR，所述步进频率比AWG通频带间的频率间隔小M倍，同时通过提供准确的噪声采样来完成增强的动态范围内的OSNR监控。

基本信息

专利标题：

光学性能监控器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN1835420A

申请号：

CN200610057174.7

公开（公告）日：

2006-09-20

申请日：

2006-03-13

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

沈金熙

申请人：

JDS尤尼弗思公司

申请人地址：

美国加利福尼亚

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司

代理人：

郑小粤

优先权：

CN200610057174.7

主分类号：

H04B10/08

IPC分类号：

H04B10/08 H04J14/02

法律状态

2015-11-18 ：

专利申请权、专利权的转移

专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101723817496
IPC(主分类) : H04B 10/08
专利号 : ZL2006100571747
登记生效日 : 20151029
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : JDS尤尼弗思公司
变更后权利人 : 朗美通运营有限责任公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 美国加利福尼亚
变更后权利人 : 美国加利福尼亚州

2012-06-13 ：

授权

2008-04-16 ：

实质审查的生效

2006-09-20 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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