用于光学读取附加到目标的信息的方法和设备
授权
摘要
在一个设备中，准直光束照射单元照射具有尺寸的大体上准直的光束到所述目标上。第一采集单元在大体上准直的光束由所述准直光束照射单元照射到所述目标上时引起所述光电检测器通过所述成像光学装置采集所述目标的第一图像。测量单元基于采集的第二图像测量表示照射在所述目标上的准直光束尺寸的尺寸信息。距离确定单元基于所述准直光束的测量尺寸信息确定所述设备与所述目标之间的距离。
基本信息
专利标题 ：
用于光学读取附加到目标的信息的方法和设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1828629A
申请号 ：
CN200610059459.4
公开（公告）日 ：
2006-09-06
申请日 ：
2006-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
伊藤邦彦吉田贤一
申请人 ：
电装波动株式会社
申请人地址 ：
日本东京
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
蔡洪贵
优先权 ：
CN200610059459.4
主分类号 ：
G06K7/10
IPC分类号 ：
G06K7/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06K
数据识别；数据表示；记录载体；记录载体的处理
G06K7/00
读出记录载体的方法或装置
G06K7/10
采用电磁辐射的，例如，光学读出；应用微粒子辐射
法律状态
2011-06-01 ：
授权
2006-10-25 ：
实质审查的生效
2006-09-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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