一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

本发明提供了一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法。该方法包括:1)确定输入条件;2)建立多尺度关联的动量和质量守恒方程;3)建立稀相和密相团聚物在加速和减速过程中与结构参数的关系;4)根据颗粒流体系统的稳定性条件将求解非均匀结构参数的问题转化为数学上的泛函问题;5)确定泛函的函数定义域,求解泛函问题,输出计算结果。本发明缩小了计算量和计算时间,提高了计算速度,为工业装置规模的颗粒流体反应器的实时操作和控制提供快速准确的参数分布。

基本信息
专利标题 :
一种测量颗粒流体两相流系统非均匀结构参数分布的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101042310A
申请号 :
CN200610065682.X
公开(公告)日 :
2007-09-26
申请日 :
2006-03-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
程长建葛蔚高士秋
申请人 :
中国科学院过程工程研究所
申请人地址 :
100080北京市海淀区中关村北二条1号
代理机构 :
北京泛华伟业知识产权代理有限公司
代理人 :
王凤华
优先权 :
CN200610065682.X
主分类号 :
G01M10/00
IPC分类号 :
G01M10/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M10/00
流体动力学试验;船只试验池或水道内或上面的装置
法律状态
2010-07-21 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101003312383
IPC(主分类) : G01M 10/00
专利申请号 : 200610065682X
公开日 : 20070926
2007-11-21 :
实质审查的生效
2007-09-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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