光泽测量装置以及光泽测量方法
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

光泽测量装置以及光泽测量方法。本发明提供了一种光泽测量装置,从光源照射光、根据由被测量物反射的正反射光求出表示上述被测量物的光泽度的评价值。该光泽测量装置具有取得单元、像素光泽度计算单元、评价值计算单元。取得单元根据来自上述被测量物表面的正反射光的各个预定像素的受光量,取得图像信息。像素光泽度计算单元根据由上述取得单元取得的图像信息的各个像素的受光量,算出各个像素的光泽度。评价值计算单元根据由上述像素光泽度计算单元算出的上述光泽度,算出表示上述被测量物的光泽度的评价值。

基本信息
专利标题 :
光泽测量装置以及光泽测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1831519A
申请号 :
CN200610065705.7
公开(公告)日 :
2006-09-13
申请日 :
2006-03-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
桑田良隆
申请人 :
富士施乐株式会社
申请人地址 :
日本东京
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
黄纶伟
优先权 :
CN200610065705.7
主分类号 :
G01N21/57
IPC分类号 :
G01N21/57  G06F19/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
G01N21/57
测量光泽度
法律状态
2021-12-24 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
IPC(主分类) : G01N 21/57
变更事项 : 专利权人
变更前 : 富士施乐株式会社
变更后 : 富士胶片商业创新有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 日本东京
变更后 : 日本东京
2010-05-12 :
授权
2007-01-17 :
发明专利申请公布说明书更正
更正卷 : 22
号 : 37
页码 : 扉页
更正项目 : 优先权
误 : 缺少优先权第二条
正 : 2005.11.21 JP 2005-336340
2006-11-08 :
实质审查的生效
2006-09-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN1831519A.PDF
PDF下载
2、
CN1831519B.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332