用于晶体的晶格原子面角度测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种用于晶体的晶格原子面角度测量装置,包括一个机台,机台上设置作为载台的转轴,其特征在于,作为载台的转轴上安装有一个径向摆杆,摆杆在转轴的轴端设置有弧形安装孔,以便转轴在大范围内转动时调整,摆杆另一端连接一个连杆,连杆两端分别安装两个销钉,滑块安装板通过4个滑块安装板固定螺钉安装到滑块上,滑块安装在滑轨上,滑轨通过滑轨固定螺钉装在滑轨固定板上,滑轨在空间位置上平行于摆杆运动面并且垂直于摆杆,滑轨固定板安装在机台上,本实用新型有益效果在于,本实用新型可以直接测量轴上的角度,避免原有的与传动有关的误差,本实用新型测量精度提高很多,简单可靠,易于实施,成本低廉。

基本信息
专利标题 :
用于晶体的晶格原子面角度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620015589.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-11-02
授权号 :
CN200982852Y
授权日 :
2007-11-28
发明人 :
任荣
申请人 :
任荣
申请人地址 :
830000新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市西北路134号
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN200620015589.3
主分类号 :
G01B5/24
IPC分类号 :
G01B5/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/24
•用于计量角度或锥度;用于轴线准直检测
法律状态
2011-01-19 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101031688948
IPC(主分类) : G01B 5/24
专利号 : ZL2006200155893
申请日 : 20061102
授权公告日 : 20071128
终止日期 : 20091202
2007-11-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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