一种薄膜电阻测试仪
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种薄膜电阻测试仪，包括电阻测试仪主体、与测试仪主体引出的测试线相连的测试头(5)和固定测试头(5)的测试支架，所述测试头(5)的上端和测试仪主体引出的测试线相连，下端用于和待侧元件接触，测试头(5)可在所述测试支架上移动。采用这种结构的薄膜电阻测试仪可提高测试结果的稳定性和准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种薄膜电阻测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620016634.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-12-20
授权号 ：
CN200982989Y
授权日 ：
2007-11-28
发明人 ：
王叔明栗金鹏张鹏李明文王道敏
申请人 ：
比亚迪股份有限公司
申请人地址 ：
518119广东省深圳市龙岗区葵涌镇延安路比亚迪工业园
代理机构 ：
深圳创友专利商标代理有限公司
代理人 ：
江耀纯
优先权 ：
CN200620016634.7
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2017-02-08 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101702105169
IPC(主分类) : G01R 27/02
专利号 : ZL2006200166347
申请日 : 20061220
授权公告日 : 20071128
终止日期 : 20151220
号牌文件序号 : 101702105169
IPC(主分类) : G01R 27/02
专利号 : ZL2006200166347
申请日 : 20061220
授权公告日 : 20071128
终止日期 : 20151220
2007-11-28 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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