比容测试辅助装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本实用新型提供一种比容测试辅助装置，其包括探针和具有定位器的夹具，该探针与一个控制器连接，用于探测比容测试液的液面位置，该夹具用于夹紧待测样片，通过该定位器将待测样片准确定位，当探针的底部尖端接触比容测试液的表面时，该待测样片刚好垂直浸入该比容测试液。本实用新型操作简单、方便、对待测样片的定位准确且具有较高的比容测试精度，可消除人为因素对比容测试过程的影响，从而降低产品的生产成本。
基本信息
专利标题 ：
比容测试辅助装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620017301.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-07-28
授权号 ：
CN2927047Y
授权日 ：
2007-07-25
发明人 ：
宋荣
申请人 ：
深圳职业技术学院
申请人地址 ：
518055广东省深圳市南山区西丽镇
代理机构 ：
深圳市科吉华烽知识产权事务所
代理人 ：
胡吉科
优先权 ：
CN200620017301.6
主分类号 ：
G01N27/22
IPC分类号 ：
G01N27/22 G01N27/60
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
G01N27/02
通过测试阻抗
G01N27/22
通过测试电容量
法律状态
2009-09-30 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-07-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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