固定式大口径多点测量测径仪
专利权的终止
摘要

本实用新型属于冶金领域的一种固定式大口径多点测量测径仪,由测径盘体、测头、移动支架、移动基座构成,测径盘体固装在移动支架上,移动支架安装在移动基座上,两个对应且轴向重合的测头或者两组对应且轴向重合的组合测头构成一路测头,2-6路测头同径等分度固装在测径盘体的主盘面上,其特征在于:在测径盘体的后盘面上也同径等分度固装有2-6路测头。本实用新型结构简单合理,安装精度易于保障,占地面积小,成本较低,有效消除测量盲区且测量精度高,尤其适合大口径线、棒材的轮廓线度的高精度测量。

基本信息
专利标题 :
固定式大口径多点测量测径仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620025661.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-03-29
授权号 :
CN2886504Y
授权日 :
2007-04-04
发明人 :
孙智明
申请人 :
孙智明
申请人地址 :
100075北京市崇文区郭庄西巷27号
代理机构 :
天津盛理知识产权代理有限公司
代理人 :
王来佳
优先权 :
CN200620025661.0
主分类号 :
G01B5/20
IPC分类号 :
G01B5/20  G01B5/213  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/20
用于计量轮廓或曲率
法律状态
2016-05-18 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101661350104
IPC(主分类) : G01B 5/20
专利号 : ZL2006200256610
申请日 : 20060329
授权公告日 : 20070404
终止日期 : 20150329
2009-02-18 :
专利申请权、专利权的转移(专利权的转移)
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 孙智明
变更后权利人 : 天津市兆瑞测控技术有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 北京市崇文区郭庄西巷27号,邮编 : 100075
变更后 : 天津市华苑产业区物华道8号增1号401室,邮编 : 300384
登记生效日 : 20090109
2007-04-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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