多元素分析仪
专利权的终止
摘要

一种多元素分析仪,包括激发光源,其具有一X光管。X光管上设置一准直器,准直器前端设有初级滤色片,以及提供X光管激发X射线能量的光管高压。样品盘,其具有一转盘。转盘上开设有一样品孔供放置待测样品,样品孔处于通过准直器校准的X射线的光路上,同时准直器与样品孔呈一角度。探头正对样品孔接收由X射线激发样品产生的X荧光,其具有一个正比计数管。正比计数管前端设有次级滤色片。一个电路输出设备与探头串联。在本实用新型中,激发光源的初级滤色片为铜箔,次级滤色片为含硅的薄膜。采用上述结构的分析仪,是一种无化学污染、无辐射污染、测量时间短、精度高、结构简单、安全可靠、价格便宜的X光管激发的能量色散型X射线荧光的多元素分析仪。

基本信息
专利标题 :
多元素分析仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620040917.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-04-10
授权号 :
CN2886561Y
授权日 :
2007-04-04
发明人 :
徐晓东倪虹
申请人 :
上海爱斯特电子有限公司
申请人地址 :
200233上海市徐汇区田林路191号
代理机构 :
上海申汇专利代理有限公司
代理人 :
翁若莹
优先权 :
CN200620040917.5
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2016-05-25 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101662503464
IPC(主分类) : G01N 23/223
专利号 : ZL2006200409175
申请日 : 20060410
授权公告日 : 20070404
终止日期 : 无
2007-04-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332