红外线扫瞄测温仪
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
摘要

本实用新型公开了一种红外线扫瞄测温仪,包括红外扫瞄探头盒、信号处理盒,红外扫瞄探头盒与信号处理盒之间由光导纤维和电缆连接。红外扫瞄探头盒由一个带开盖和扫瞄通道的密封盒体构成,密封盒体内部川字形布局:两边设有透明玻璃密封窗的冷却水槽,中间设有一体化旋转扫瞄反射镜组件,扫瞄反射镜组件一端与步进电机转轴相连接,另一端面向红外集光系统。水槽下面设有空气吹扫通道;该测温仪结构优化,体积小,安装和使用维护方便,系统运行可靠性高,设备和运行成本低。

基本信息
专利标题 :
红外线扫瞄测温仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620049485.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-12-26
授权号 :
CN201062993Y
授权日 :
2008-05-21
发明人 :
袁国炳
申请人 :
袁国炳
申请人地址 :
200070上海市闸北区和田路229弄1号楼1101室
代理机构 :
上海申汇专利代理有限公司
代理人 :
吴宝根
优先权 :
CN200620049485.4
主分类号 :
G01J5/02
IPC分类号 :
G01J5/02  G01J5/04  G01J5/08  G01J5/46  G08C17/02  G08C19/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/02
零部件
法律状态
2010-03-03 :
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
放弃生效日 : 2010127
2008-05-21 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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