透光率测试仪
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本实用新型公开了一种透光率测试仪，包括光处理部件、光信号衰减放大电路、透光率计算电路、光透率显示部份、电路工作电源；其特征在于：光处理部件是由发光二极管、凸透镜、光信号接收电子元件组成；光透率显示部份是电子数字显示或液晶显示板电路，发光二极管是高亮度白光二极管，凸透镜是高倍率凸透镜，以使用成本低，寿命长，方便清晰的操作显示界面为目的，更好地服务用户。
基本信息
专利标题 ：
透光率测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620065070.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-09-29
授权号 ：
CN200956013Y
授权日 ：
2007-10-03
发明人 ：
余鸿铭
申请人 ：
余鸿铭
申请人地址 ：
510070广东省广州市先烈中路100号省高技术中心实验楼二楼
代理机构 ：
广州市南锋专利事务所有限公司
代理人 ：
潘献民
优先权 ：
CN200620065070.6
主分类号 ：
G01N21/59
IPC分类号 ：
G01N21/59 G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/59
透射率
法律状态
2009-12-02 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2007-10-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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