智能电枢性能综合测试仪

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种智能电枢综合性能测试仪，它包括计算机(7)、继电器输出模块(6)、数据采集模块(5)、恒流电源(4)、继电器开关选择电路(3)、测试夹具探针(2)、电枢线圈及焊接电阻等效电路(1)，所述等效电路(1)的换向片与测试夹具探针(2)的每一路探针一一对应，测试夹具探针(2)经开关与两组恒流电源(4)对应连接，所述等效电路(1)由两组恒流电源(4)供给相等的恒电流，数据采集模块(5)经测试夹具探针(2)采集的所述等效电路(1)的数据传送计算机(7)存储、运算、处理、显示，继电器开关电路(3)开关开或闭由继电器输出模块(6)控制；采用上述结构后，巡测速度是原来的四倍，具有结构合理、速度快、测量效率和精度高等特点。

基本信息

专利标题：

智能电枢性能综合测试仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620102199.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-03-28

授权号：

CN2932399Y

授权日：

2007-08-08

发明人：

黄志强周庆跃

申请人：

浙江永康五金生产力促进中心有限公司

申请人地址：

321300浙江省永康市金城路19号科技大楼二楼

代理机构：

浙江杭州金通专利事务所有限公司

代理人：

李德强

优先权：

CN200620102199.X

主分类号：

G01R27/02

IPC分类号：

G01R27/02 G01R31/00 G01R31/12