一种晶间腐蚀试验装置

专利权的终止

摘要

一种晶间腐蚀试验装置由电加热套(1)、平面盖板(4)、截口烧杯(2)等组成，截口烧杯(2)置于电加热套(1)中，平面盖板(4)置于截口烧杯(2)上，回流冷凝管(6)与平面盖板(4)中心孔中的橡胶塞环(7)插接固定，温度传感器(6)和压力传感器(5)分别插接于平面盖板(4)中心孔的两侧。电热套(1)通电加热，使截口烧杯(2)中的溶液、试验样品和铜屑升温；在装样和取样时，将平面盖板(4)连同固定在它上面的回流冷凝管(6)、温度传感器(8)和压力传感器(5)一同取下，将截口烧杯(2)取出，便可以通过宽敞的杯口装样和取样。本装置取样快捷且容易操作，工作效率高。

基本信息

专利标题：

一种晶间腐蚀试验装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620124522.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-06-28

授权号：

CN2914069Y

授权日：

2007-06-20

发明人：

张丽霞

申请人：

航天科工防御技术研究试验中心

申请人地址：

100854北京市北京142信箱23分箱

代理机构：

中国航天科工集团公司专利中心

代理人：

岳洁菱

优先权：

CN200620124522.3

主分类号：

G01N17/00

IPC分类号：

G01N17/00