光纤式高光谱剖面测量仪

专利权的终止

摘要

光纤式高光谱剖面测量仪，涉及一种剖面测量设备，尤其是一种采用光纤式高光谱剖面测量仪。提供一种以光纤传感器为核心，具有低成本、轻便、高深度分辨率和高光谱分辨率，自阴影影响小等优点的可用于浑浊水体的光纤式高光谱剖面测量仪。光谱仪、计算机和控制箱设于船上，浮子装置设有至少1个浮子，浮子由连杆与光谱仪、计算机和控制箱连接，水下探头装置设有液位计、电机、固定架、转向控制杆、漫反射板、光纤和尾舵，液位计设在电机上，液位计数据线接计算机，电机、转向控制杆和尾舵设在固定架上，电机电缆线接计算机，漫反射板通过连接杆接电机，光纤一端固定在固定架上，另一端接光谱仪。

基本信息

专利标题：

光纤式高光谱剖面测量仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200620156451.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2006-12-06

授权号：

CN200979530Y

授权日：

2007-11-21

发明人：

马晓鑫商少凌李炎胡传民

申请人：

厦门大学

申请人地址：

361005福建省厦门市思明南路422号

代理机构：

厦门南强之路专利事务所

代理人：

马应森

优先权：

CN200620156451.5

主分类号：

G01N21/25

IPC分类号：

G01N21/25 G01J3/00