流气式正比探测器阵列
专利权的终止
摘要
本实用新型提供一种流气式正比探测器阵列,包括外壳和盖板,外壳的腔体均匀地设置小于等于5个独立的竖向阵列的探测区,每一个竖向阵列的探测区的两端安装竖向布置的聚四氟乙烯绝缘支架,在每一个聚四氟乙烯绝缘支架上均匀设置若干缘柱,在绝缘柱上横向铺挂镀金钨丝阳极丝,以Magler膜为阴极密封铺设于外壳的腔体上面,借助于外壳上的充气孔在阴极膜与外壳的腔体之间充有氩甲烷工作气体,将盖板设置在外壳上连接固定。本装置解决了捕捉热点时比较模糊、测量效率低、测量几何条件不能保证的缺点,并且保证了测量数据的一致性。用于核退役项目中地板表面污染监测仪器的测量结果更加准确。
基本信息
专利标题 :
流气式正比探测器阵列
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620159768.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-11-30
授权号 :
CN200982957Y
授权日 :
2007-11-28
发明人 :
杜向阳韩淑萍刘正山邓长明李翔
申请人 :
中国辐射防护研究院
申请人地址 :
030006山西省太原市学府街270号
代理机构 :
核工业专利中心
代理人 :
高尚梅
优先权 :
CN200620159768.4
主分类号 :
G01N25/72
IPC分类号 :
G01N25/72
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N25/00
应用热方法测试或分析材料
G01N25/72
测试缺陷的存在
法律状态
2016-12-28 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101693578002
IPC(主分类) : G01N 25/72
专利号 : ZL2006201597684
申请日 : 20061130
授权公告日 : 20071128
终止日期 : 无
号牌文件序号 : 101693578002
IPC(主分类) : G01N 25/72
专利号 : ZL2006201597684
申请日 : 20061130
授权公告日 : 20071128
终止日期 : 无
2007-11-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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