一种内存卡测试装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
一种内存卡测试装置，属于内存卡检测装置。包括内存检测扩展卡和内存卡插口，所述内存检测扩展卡的金属触片分别引出弹性金属片形成内存卡插口，内存卡插口两侧的弹性金属片分别由绝缘材料固定粘结成一体，弹性金属片的外侧分别设置D形轴，D形轴接触绝缘材料并间接驱动弹性金属片向内存卡插口内侧缩进，所述D形轴的一端设置相互啮合的齿轮。该内存卡测试装置在测试时待测内存卡金手指与内存卡插口的弹性金属片间无面摩擦接触，对弹性金属片和内存卡金手指的磨损几乎为零，不仅保护内存卡的金手指，还延长了测试装置的使用寿命，同时测试方便，检测性能佳。该内存卡测试装置可用于各种插拔式内存卡的测试，还可用于数码或电子产品存储器的测试。
基本信息
专利标题 ：
一种内存卡测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200620175750.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2006-12-27
授权号 ：
CN201018047Y
授权日 ：
2008-02-06
发明人 ：
顾焕军
申请人 ：
苏州工业园区剑恒电子有限公司
申请人地址 ：
215000江苏省苏州市工业园区娄封分区通园路西侧
代理机构 ：
北京华夏博通专利事务所
代理人 ：
刘俊
优先权 ：
CN200620175750.3
主分类号 ：
H01R12/18
IPC分类号 ：
H01R12/18 H01R13/629 G01R31/28
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法律状态
2010-03-03 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-02-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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