光学元件和使用该光学元件的光学测定装置
发明专利申请公布后的视为撤回
摘要

提供了一种不需要对光学元件所用材料进行机械加工或蚀刻就能够形成与样本相接触的沟部、并且不会因为光在该沟部的散射而降低光学测定精度的光学元件。该光学元件由以下部分构成:光照射棱镜,其具有光出射面,照射到样本上的光从该出射面射出;光接收棱镜,其具有光接收面,从样本返回的光由该光接收面接收;光强度降低部,设置在光照射棱镜和光接收棱镜之间。将光照射棱镜和光接收棱镜组合成接触样本的凹部,从而从光出射面射出的光在与凹部接触的样本中直线前进,射入上述光接收面。

基本信息
专利标题 :
光学元件和使用该光学元件的光学测定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1942754A
申请号 :
CN200680000139.X
公开(公告)日 :
2007-04-04
申请日 :
2006-02-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
内田真司
申请人 :
松下电器产业株式会社
申请人地址 :
日本大阪府
代理机构 :
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 :
浦柏明
优先权 :
CN200680000139.X
主分类号 :
G01N21/01
IPC分类号 :
G01N21/01  G01N21/27  A61B5/1455  G01N21/59  G01N21/03  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2010-12-29 :
发明专利申请公布后的视为撤回
号牌文件类型代码 : 1603
号牌文件序号 : 101058195510
IPC(主分类) : G01N 21/01
专利申请号 : 200680000139X
公开日 : 20070404
2008-01-23 :
实质审查的生效
2007-04-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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